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二十二屆中國國際光電博覽會

日期:2021-01-10 20:06
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摘要: Di 二十二屆中國國際光電博覽會將於2020年9月9-11日在深圳國際會展中心寶安新館舉辦, 值此光學盛會, TAYLOR HOBSON攜光學元件檢測領域的新技術和新產品參展, 為您帶來多樣化、全係列的接觸式和非接觸式測量解決方案 精彩展品早知道 1 LUPHOScan 50 SL 世界上*快、*精que的非接觸式3D手機鏡頭測量係統 *手機鏡片測量的一次革ming *快速完成光學表麵和空間幾何特征測量 *可得到光學表麵的真正3D麵形誤差 2 Form Talysurf® PGI Freeform *專門用於測量高精度自由曲麵光學...

Di 二十二屆中國國際光電博覽會將於2020年9月9-11日在深圳國際會展中心寶安新館舉辦, 值此光學盛會, TAYLOR HOBSON攜光學元件檢測領域的新技術和新產品參展, 為您帶來多樣化、全係列的接觸式和非接觸式測量解決方案

精彩展品早知道

1 LUPHOScan 50 SL

世界上*快、*精que的非接觸式3D手機鏡頭測量係統

*手機鏡片測量的一次革ming

*快速完成光學表麵和空間幾何特征測量
*可得到光學表麵的真正3D麵形誤差

Form Talysurf® PGI Freeform

*專門用於測量高精度自由曲麵光學元件的全自動、快速、精que的測量係統

*采用柵形/徑向測量方式來獲得球麵、非球麵、衍射麵和自由曲麵的3D形貌

*全自動的測量方式和分析功能大大地節省了測量時間,包括自由曲麵的批量測量